朱會賓 博士 （中國科學(xué)院電工研究所）

在現(xiàn)有四種聚光器面形檢測方法中：攝影測量法、TOPHAT、激光偏折法及條紋反射法，條紋發(fā)射法由于其檢測系統(tǒng)設(shè)備簡易、檢測精度高、檢測速度快等優(yōu)點受到了廣泛的關(guān)注。首先，介紹了基于相移技術(shù)和時間解包裹相位技術(shù)的條紋反射法的檢測原理；其次對檢測系統(tǒng)中涉及的系統(tǒng)標(biāo)定進行了描述，同時基于Southwell模型的迭代算法對面形重構(gòu)進行了分析。最后，搭建了檢測平臺，并開發(fā)了相應(yīng)的檢測軟件。(供稿：國家太陽能光熱產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟)